|边界扫描|处理器仿真测试|

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引言现代电子技术的高速发展对传统的电路测试技术提出了新的挑战。器件封装的小型化、表面贴装(SMT)技术的应用，以及由于板器件密度的加大而出现的多层印制板技术...

边界扫描电路板表面贴装 2007-10-11

在上个世纪80年代末，存储器发展为闪存器件。intel和东芝公司率先开发了闪存工艺技术，生产了这类新产品。在闪存器件之前，设计人员采用电可编程只读存储器(epr...

eeprom 边界扫描存储密度 isp 2007-07-11

摘要：通过对边界扫描测试过程以及TAP的16种状态的分析，总结出边界扫描测试的核心操作，归纳出相应的核心指令，设计出一种边界扫描测试主控器的MCU控制器，并用F...

微控制器边界扫描 FPGA 2007-04-25

当前，PCB是越来越复杂，不言而喻，想要获得满意的测试覆盖范围也更困难了。而且每种测试方法都有其固有的局限性。于是，测试工程师们不得不另辟蹊径，将几种技术组合起...

|边界扫描|处理器仿真测试| 2006-03-15

摘要：本文利用Altera公司的FPGA和EDA工具MAX+plusⅡ和实现了基本的边界扫描结构电路，利用此设计可以满足数...

|边界扫描|现场可编程门阵列|可测性设计| 2005-08-19

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